NES8100系列高溫反偏老化測試系統(tǒng)產(chǎn)品簡介：

是一款適用于各種封裝形式（包括SMD表面貼裝）微波器件的高溫反偏老化測試系統(tǒng)，系統(tǒng)滿足雙電源 型GaN類、微波MOS管等半導體分立器件的高溫反偏/柵偏試驗（HTRB/HTGB）和高溫漏電流測試（HTIR）。NES8100系列采用高 品質(zhì)的GWS的PH-201型號高溫箱，最高長期穩(wěn)定工作溫度為175℃；具備測試通道多的特點，單系統(tǒng)16CH支持單管芯器件640 工位測試；支持電壓200V單偏置或雙偏置的高溫反偏試驗(HTRB)和老煉篩選。NES8100系列為半導體器件高溫反偏測試定制開 發(fā)專用軟件，集成自動調(diào)節(jié)加電模式、在線調(diào)節(jié)加電模式、加載時序控制、自動保護器件、數(shù)據(jù)實時監(jiān)控等多種功能。

NES8100系列高溫反偏老化測試系統(tǒng)主要特點：

支持高溫反偏/柵偏試驗（HTRB/HTGB）和高溫漏電流測試（HTIR）

GWS單高溫箱結(jié)構(gòu)，長期穩(wěn)定工作溫度為175℃

雙一級電源供電，Vd為200V；Vg為±15.0V

NGI品牌高精度測試電源，高精度、低紋波

Vg電源單機四通道，高集成度

Vg采用UPS供電的二級電源設計，軟硬件時序控制

單系統(tǒng)16CH支持單管芯器件640工位測試

自動調(diào)節(jié)、在線調(diào)試多種加電模式，加載時序控制

數(shù)據(jù)實時監(jiān)控、全程記錄，測試數(shù)據(jù)快速溯源

單工位Vd均加繼電器自動保護，器件測試更安全
規(guī)格參數(shù)表：