艾克賽利在業(yè)內(nèi)支持吉時(shí)利4225模塊測(cè)試

艾克賽利(Accelicon)，器件級(jí)建模驗(yàn)證以及PDK解決方案的技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)員，宣布成為業(yè)內(nèi)家支持吉時(shí)利(Keithley)?4225-PMU超快I-V模塊與4225-RPM遠(yuǎn)程放大器/開關(guān)協(xié)同工作的公司。

　　吉時(shí)利4225-PMU超快I-V模塊進(jìn)一步豐富了4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)的可選測(cè)試儀器系列，它在4200-SCS已有的強(qiáng)大測(cè)試環(huán)境中集成了超快的電壓波形發(fā)生和信號(hào)觀察功能。4225-RPM遠(yuǎn)程放大器/開關(guān)通過對(duì)連線的組合和快速切換，可以地實(shí)現(xiàn)PULSE IV，IV，CV測(cè)試的轉(zhuǎn)換。

　　艾克賽利通過開發(fā)嶄新的驅(qū)動(dòng)程序，實(shí)現(xiàn)4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)，4225-PMU超快I-V模塊，4225-RPM遠(yuǎn)程放大器/開關(guān)與艾克賽利公司的建模測(cè)試工具Device Characterization Program(DCP)的兼容。DCP是集成于艾克賽利公司旗艦產(chǎn)品Model Builder Program(MBP)中的一款功能強(qiáng)大的器件測(cè)試組件。顧客可通過定制，快速靈活完成對(duì)單個(gè)器件，多個(gè)測(cè)試點(diǎn)或者整片晶元的自動(dòng)化測(cè)試。